欢迎光临苏州尚谱环境科学仪器有限公司网站!联系我们  

当前位置:首页 > 公司新闻 > 详细内容

-新闻中心-

NEWS CENTER

联系人:王经理
手机: 15050142113
电话:0512-66383278
邮箱:15050142113@sampray.com
地址: 江苏省苏州市工业园区东长路88号2.5产业园A3栋106,107

新闻详情

X 射线荧光 (XRF)

发布时间:2019-06-12来源:苏州尚谱环境科学仪器有限公司

  X 射线荧光 (XRF)  打印
  什么是 XRF
  X 射线荧光 (XRF) 是一种强大的定量和定性分析工具,用于材料的元素分析。它非常适合测量薄膜厚度和成分,按固体和溶液的重量测定元素浓度,以及鉴定复杂样品基质中的特定元素和微量元素。XRF 分析广泛应用于半导体、电信、微电子、金属加工和精炼、食品、医药、化妆品、农业、塑料、橡胶、纺织品、燃料、化学品和环境分析等许多行业。该方法快速、准确、无损,几乎无需样品制备。
  XRF 如何工作
  当样品中的元素暴露于高强度 X 射线源时,荧光 X 射线将以这些元素特有的能级从样品发射。
  所有 XRF 光谱仪的基本概念都是源、样品和检测系统。源照射样品,检测仪测量从样品发射的荧光辐射。在大多数情况下,XRF 的源是 X 射线管。替代方案是放射源或同步加速器。XRF 仪器主要有两种类型:能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 和波长色散 X 射线荧光 (WDXRF)。
  X 射线光学晶体可用于增强这两种 XRF 仪器。对于常规 XRF 仪器,样品表面典型焦斑尺寸的直径范围从几百微米到几毫米不等。多毛细管聚焦光学晶体从发散 X 射线源收集 X 射线,并将它们引导至样品表面上形成直径小到几十微米的小聚焦光束。由此增加的强度以小焦斑传递到样品,可增强用于小特性分析的空间分辨率和用于微 X 射线荧光应用的微量元素测量性能。双曲面弯晶光学晶体将高强度微米级单色 X 射线束引导至样品表面,用于加强元素分析。
上一条:没有了
下一条:TSI的设施监测系统荣获“科技进步奖”
相关标签: